MyTetra Share
Делитесь знаниями!
Статья: Проблемы реализации высокоскоростных каналов оперативной памяти DDR4 в российском многоядерном микропроцессоре нового поколения
Время создания: 18.11.2020 10:14
Автор: И. Е. Билялетдинов, Л. С. Тимин
Текстовые метки: микропроцессор, эльбрус, DDR4, частоты, память
Раздел: Компьютер - Аппаратное обеспечение - Микропроцессор Эльбрус

Решение проблемы совместимости новых отечественных разработок с передовыми стандартами, постоянно ос-ваиваемыми и используемыми в мировой микроэлектронной индустрии, требует основательной работы по анализу и оптимизации системной среды их внедрения. В статье приводятся результаты исследований работы канала оперативной памяти DDR4 нового микропроцессора «Эльбрус-8СВ». Основной проблемой явилась существенно меньшая, чем расчетная, скорость передачи данных по каналу. В связи с этим был реализован и внедрен в эксплуатацию метод исследования функционирования канала, основанный на формировании аналогов глазковых диаграмм, позволяющих судить об области работоспособности и устанавливать оптимальные настройки. Исследования, проведенные с использованием данного метода, позволили установить причины неудовлетворительных показателей работы канала и объективно оценить конструкторские решения, принятые при разработке. После учета этих результатов и внесения изменений в кристалл и коммутационную плату корпуса микропроцессора была выпущена усовершенствованная версия микропроцессора, в которой удалось достичь расчетной скорости передачи данных по каналу оперативной памяти.


Представленные в статье результаты свидетельствуют о том, что решение проблемы совместимости новых отечественных разработок с передовыми стандартами, постоянно осваиваемыми и используемыми в мировой микроэлектронной индустрии, требует основательной работы по анализу и оптимизации системной среды их внедрения. В этом смысле первая в стране реализация передового стандарта DDR4 в новом проекте высокопроизводительного микропроцессора показала очевидную недостаточность точного воспроизведения логики и физических установок стандарта на стадии проектирования кристалла. Уже на стадии постсиликоновой верификации с помощью специально разработанного инструментария были выявлены негативные эффекты, прямо связанные с компоновкой и обрамлением кристалла в составе вычислительного комплекса. Часть из них удалось нивелировать специальными методами, позволившими обеспечить нормальное функционирование конечного изделия. Другие стоит учитывать в последующих разработках.


Файл статьи прикреплен.


Так же в этом разделе:
 
MyTetra Share v.0.53
Яндекс индекс цитирования